手持式光谱仪手持式合金分析仪合金分析仪

CONTACT US

Call us for more information
400-7102-888
非工作时间服务热线
139 1323 1381
leave us a message
Online Message
微信售后服务二维码

Technical articles

Current page:HOME > Technical support > Technical articles

EDXRF VS WDXRF

Create Date:2016-07-01  Click: 2775
In an effort to save money, space, sample preperation time, or simply to add an analytical instrument to their process many 
companies will decide to evaluate energy dispersive x-ray fluorescence (EDXRF) analyzers as a substitute for their standard 
wavelength dispersive x-ray fluorescence (WDXRF) analysis. This is very common with geological applications where WDX is the 
benchmark, but it occurs with many other applications as well. What all these companies eventually discover is that EDXRF is not 
the low cost drop in replacement that they thought it would be but has significant differences, some positive and some negative, 
that must be considered in the evaluation process or else dealt with later when it may be less convenient. 
More than just the backwards spectra 
As most scientifically minded persons know, the energy of the light photon increases as the wavelength decreases, 
so in an EDX spectra the low atomic number elements are on the left while they
 are to the right of a WDX spectra. But the difference goes far beyond that.
WDXRF
The WDXRF analyzer uses a x-ray source to excite a sample. X-rays that have wavelengths that are characteristic 
to the elements within the sample are emmitted and they along with scattered source x-rays go in all directions. 
A crystal or other diffraction device is placed in the way of the x-rays coming off the sample. 
A x-ray detector is position where it can detector the x-rays that are diffracted and scattered off the crystal.
 Depending on the spacing between the atoms of the crystal lattice (diffractive device)
 and its angle in relation to the sample and detector, specific wavelengths directed at the detector can be controlled. 
The angle can be changed in order to measure elements sequentially, or multiple crystals and detectors may be arrayed 
around a sample for simultaneous analysis.
EDXRF
The EDXRF analyzer also uses an x-ray source to excite the sample but it may be configured in one of two ways. 
The first way is direct excitation where the x-ray beam is pointed directly at the sample.
 Filter made of various elements may be placed between the source and sample to increase the excitation of the element of
 interest or reduce the background in the region of interest. The second way uses a secondary target, 
where the source points at the target, the target element is excited and 
fluoresces, and then the target fluorescence is used to excite the sample. A 
detector is positioned to measure the fluorescent and scattered x-rays from the sample and a multichannel analyzer and software 
assigns each detector pulse an energy value thus producing a spectrum. Note that there is absolutely 
no reason why the spectra cannot be displayed in a wavelength dependant graph format.
Points of Comparison
1. Resolution: It describes the width of the spectra peaks. The lower the resolution number the more easily an elemental line is 
distinguished from other nearby x-ray line intensities.
a. The resolution of the WDX system is dependant on the crystal and
 optics design, particularly collimation, spacing and positonal reproducibilty. The effective resolution of a WDX system
 may vary from 20 eV in an inexpensive benchtop to 5 eV or less in a laboratory instrument. 
The resolution is not detector dependant.
b. The resolution of the EDX system is dependent on the resolution of the detector. 
This can vary from 150 eV or less for a liquid nitrogen cooled Si(Li) detector, 
150-220 eV for various solid state detectors, or 600 eV or more for gas filled proportional counter.
ADVANTAGE WDXRF ?C High resolution means fewer spectral overlaps and lower background intensities.
ADVANTAGE EDXRF ?C WDX crystal and optics are expensive, and are one more failure mode. 

2. Spectral Overlaps: Spectral deconvolutions are necessary for 
determining net intensities when two spectral lines overlap because the resolution is too high for them to be measured indepedantly. 
a. With a WDX instrument with very high resolution (low number of eV) spectral overlap corrections are not required for a vast 
majority of elements and applications. The gross intensities for each element can be determined in a single acquisition.

CONTACT US

Call us for more information
400-7102-888
非工作时间服务热线
139 1323 1381
leave us a message
Online Message
微信售后服务二维码